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振弦式橋梁鋼筋測力計通常埋設于各類建筑基礎、樁、地下連續墻、隧道襯砌、橋梁、邊坡、碼頭、船塢、閘門等混凝土工程及深基坑開挖安全監測，測量混凝土內部的鋼筋應力，錨桿的錨固力，拉拔力等；并可同步測量埋設點的溫度。
更新時間：2025-02-09
產品型號：BX-G310
瀏覽量：772
鋼弦式軸力計（反力計）測量鋼支撐軸力時，有安裝架（另購）相配套，安裝操作極為方便。根據用戶需求，加裝配件即可同步測量埋設點的溫度。
更新時間：2025-02-09產品型號：BX-G309瀏覽量：692
教學激光橢偏儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
更新時間：2025-02-09產品型號：BX-G105瀏覽量：1125
納米光伏專用激光橢偏儀針對光伏太陽能電池高.duan研發和質量控制領域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。
更新時間：2025-02-09產品型號：BX-G104瀏覽量：1103
激光橢偏儀 多入射角測量儀是針對高.duan研發和質量控制領域推出的jizhi型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量。
更新時間：2025-02-08產品型號：BX-G103瀏覽量：1260
紫外廣義光譜橢偏儀針對科研和工業環境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。
更新時間：2025-02-08產品型號：BX-G102瀏覽量：931
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